CIM - International Metrology Congress （国际计量大会暨展览会）是聚焦计量、测量与标准化领域的专业大会及配套展示活动，在法国里昂举办，并与Global Industrie Lyon同场举行。 大会始于1983年，围绕测量系统、传感器、数据与元数据、API、人工智能、量子技术、工业创新、校准溯源与质量认证等主题组织交流，推动行业技能、良好实践与测量、分析和测试方法持续适应技术变化。 参会者来自工业企业、研究机构、公共机构与实验室，预计约600人来自45个国家，其中约55%为各行业终端用户，45%来自公共机构与研究实验室，覆盖环境科学与污染等工业领域。 配套展示设置计量村（Metrology Village by CFM）与MCVI区域，汇集测量科学、校准、精密仪器、质量保证、传感器技术、测量软件与认证服务等参展方，适合相关技术供应商、解决方案提供商与科研合作伙伴对接国际计量受众。
主办：Collège Français de Métrologie (CFM)
